标题：
Sample measuring device and sample measuring system
授权日：
2019-06-26
公开(公告)号：
EP2517620B1
申请日：
2012-04-27
公开(公告)日：
2019-06-26
当前申请(专利权)人：
ARKRAY, INC.
发明人：
KAI, AKINORI | WADA, ATSUSHI
简单同族：
CN102759613A | CN102759613B | EP2517620A1 | EP2517620B1 | JP2012237748A | JP5878424B2 | US20120274443A1 | US8854206
简单同族成员数量：
8
简单同族被引用专利总数：
36
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移