标题：
Optical examination method and optical examination device
授权日：
2018-06-13
公开(公告)号：
EP3106088B1
申请日：
2016-06-13
公开(公告)日：
2018-06-13
当前申请(专利权)人：
RICOH COMPANY, LTD.
发明人：
ISHII, TOSHIHIRO | TAKAHASHI, YOICHIRO | SASAKI, TOSHIHIDE | FUJIWARA, MASAYUKI
简单同族：
EP3106088A1 | EP3106088B1 | US10292590 | US20160360966A1
简单同族成员数量：
4
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权