标题：
Multi-point probe and electronic contact sheet for configuring same, multi-point probe array and multi-point probe manufacturing method
授权日：
2018-12-26
公开(公告)号：
EP3000389B1
申请日：
2014-05-21
公开(公告)日：
2018-12-26
当前申请(专利权)人：
JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY
发明人：
SOMEYA, TAKAO | SEKITANI, TSUYOSHI | SAKAI, SHINRI
简单同族：
CN105228519A | CN105228519B | EP3000389A1 | EP3000389A4 | EP3000389B1 | JP2014226257A | JP6212814B2 | US10588525 | US20160100768A1 | WO2014189077A1
简单同族成员数量：
10
简单同族被引用专利总数：
5
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权