标题：
Method and device for recognizing and removing undesired artifacts in multichannel magnetic field or electric potential measurements
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
EP2806789A1
申请日：
2013-01-24
公开(公告)日：
2014-12-03
当前申请(专利权)人：
ELEKTA AB (PUBL).
发明人：
SIMOLA, JUHA | TAULU, SAMU | KAJOLA, MATTI
简单同族：
CA2862189A1 | CA2862189C | EP2806789A1 | EP2806789A4 | EP2806789B1 | FI125397B | FI20125075A | JP2015508318A | JP6143794B2 | US10307105 | US20140343882A1 | WO2013111072A1
简单同族成员数量：
12
简单同族被引用专利总数：
8
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权