标题：
Method for detecting and localizing insulation failures of implantable device leads
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
EP2854702A1
申请日：
2013-05-30
公开(公告)日：
2015-04-08
当前申请(专利权)人：
LAMBDA NU TECHNOLOGY LLC
发明人：
KROLL, MARK, WILLIAM | SWERDLOW, CHARLES, DENNIS
简单同族：
EP2854702A1 | EP2854702A4 | US20130325079A1 | US20160250462A1 | US9272150 | US9821156 | WO2013181409A1
简单同族成员数量：
7
简单同族被引用专利总数：
22
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回 | 权利转移