标题：
アクティブ測温による脆弱プラークの診断
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JPWO2004105597A1
申请日：
2003-11-28
公开(公告)日：
2006-07-20
当前申请(专利权)人：
学校法人慶應義塾
发明人：
荒井 恒憲 | 柳原 穀志 | 大森 初夏
简单同族：
AU2003304154A1 | JPWO2004105597A1 | WO2004105597A1
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
4
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回