标题：
荧光―光学联合断层成像系统及测量方法
授权日：
2014-11-26
公开(公告)号：
CN102920434B
申请日：
2012-10-23
公开(公告)日：
2014-11-26
当前申请(专利权)人：
天津大学
发明人：
高峰 | 张伟 | 武林会 | 李娇 | 周仲兴 | 张丽敏 | 赵会娟
简单同族：
CN102920434A | CN102920434B
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
10
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权