标题：
基于光学相干断层成像的斑块稳定性测量方法及系统
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
CN106974622A
申请日：
2017-04-06
公开(公告)日：
2017-07-25
当前申请(专利权)人：
上海交通大学
发明人：
黄佳悦 | 涂圣贤 | 田峰 | 余炜 | 张素
简单同族：
CN106974622A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
3
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
实质审查