标题：
유기 전계 발광표시장치에 사용되는 테스트패턴 및테스트방법
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020060038708A
申请日：
2004-11-01
公开(公告)日：
2006-05-04
当前申请(专利权)人：
삼성에스디아이 주식회사
发明人：
YOO,YOUNGWOOK
简单同族：
KR100669743B1 | KR1020060038708A
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
2
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移