标题：
발명의 명칭 전계발광 디스플레이에 대한 결함 이미터 검출
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020120087135A
申请日：
2010-09-24
公开(公告)日：
2012-08-06
当前申请(专利权)人：
글로벌 오엘이디 테크놀러지 엘엘씨
发明人：
리베이찰스아이 | 레온펠립에이
简单同族：
CN102549641A | EP2483884A1 | JP2013506873A | JP5364209B2 | KR101243887B1 | KR1020120087135A | TW201128599A | TWI380256B | US20110074429A1 | US8212581 | WO2011041225A1
简单同族成员数量：
11
简单同族被引用专利总数：
28
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权