标题：
일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함수정 방법 및 일렉트로루미네센스 표시 장치의 제
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020080021566A
申请日：
2007-09-03
公开(公告)日：
2008-03-07
当前申请(专利权)人：
산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드
发明人：
OGAWA, TAKASHI
简单同族：
CN101174376A | JP2008066003A | KR1020080021566A | TW200845808A | US20080057818A1
简单同族成员数量：
5
简单同族被引用专利总数：
32
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回