标题：
원장단위 검사가 가능한 유기 발광 표시장치 및 모기판과그 검사방법
授权日：
2007-08-24
公开(公告)号：
KR100754140B1
申请日：
2005-12-21
公开(公告)日：
2007-08-31
当前申请(专利权)人：
삼성에스디아이 주식회사
发明人：
WONKYU KWAK
简单同族：
KR100754140B1 | KR1020070066261A | US20070139312A1 | US8395609
简单同族成员数量：
4
简单同族被引用专利总数：
30
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移