标题：
발명의 명칭 유기 전계 발광 소자의 검사 방법 및 유기 전계 발광 소자용 재료의 검사 방법
授权日：
2016-09-28
公开(公告)号：
KR101662847B1
申请日：
2010-07-27
公开(公告)日：
2016-10-07
当前申请(专利权)人：
유디씨 아일랜드 리미티드
发明人：
키노시타마사루 | 오가와쿄헤이
简单同族：
JP2011034811A | JP4516624B1 | KR101662847B1 | KR1020110013267A | TW201109644A | TWI485390B
简单同族成员数量：
6
简单同族被引用专利总数：
8
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权