标题：
유기 전계발광 표시소자의 불량 검출장치 및 검출방법
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
KR1020060102095A
申请日：
2005-03-22
公开(公告)日：
2006-09-27
当前申请(专利权)人：
엘지전자 주식회사
发明人：
SHIN, SUNG YOUNG
简单同族：
KR1020060102095A
简单同族成员数量：
1
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
撤回