标题：
일렉트로루미네센스 표시 장치의 결함 검사 방법 및 결함검사 장치 및 이들을 이용한 일렉트로루미네센스 표시장치의 제조 방법
授权日：
2013-05-21
公开(公告)号：
KR101268237B1
申请日：
2007-09-03
公开(公告)日：
2013-05-31
当前申请(专利权)人：
산요덴키가부시키가이샤 | 산요 세미컨덕터 컴퍼니 리미티드
发明人：
오가와다까시
简单同族：
CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296
简单同族成员数量：
10
简单同族被引用专利总数：
108
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权