标题：
유기 전계발광 표시소자의 불량 검출장치 및 검출방법
授权日：
2007-03-02
公开(公告)号：
KR100692048B1
申请日：
2005-04-07
公开(公告)日：
2007-03-12
当前申请(专利权)人：
엘지전자 주식회사
发明人：
SHIN, SUNG YOUNG
简单同族：
KR100692048B1 | KR1020060106959A
简单同族成员数量：
2
简单同族被引用专利总数：
1
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
放弃