标题：
Method for measuring offset of sub-pixel in OLED manufacturing process
授权日：
2015-12-29
公开(公告)号：
US9224957
申请日：
2015-04-08
公开(公告)日：
2015-12-29
当前申请(专利权)人：
EVERDISPLAY OPTRONICS (SHANGHAI) LIMITED
发明人：
KANG, CHIAPIN | LIN, CHIN CHIH | HUANG, CHUNCHIEH
简单同族：
CN105280842A | CN105280842B | US9224957
简单同族成员数量：
3
简单同族被引用专利总数：
8
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移