标题：
Method for testing OLED substrate and OLED display
授权日：
2006-10-17
公开(公告)号：
US7122970
申请日：
2004-08-25
公开(公告)日：
2006-10-17
当前申请(专利权)人：
CHI MEI OPTOELECTRONICS CORP. | INNOLUX CORPORATION
发明人：
ONO, SHINYA | KOBAYASHI, YOSHINAO
简单同族：
CN100362553C | CN1637816A | JP2005070614A | JP4534052B2 | TW200508621A | TWI237698B | US20050057193A1 | US7122970
简单同族成员数量：
8
简单同族被引用专利总数：
55
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
授权 | 权利转移