标题：
Inspection device and inspection method for active matrix panel, and manufacturing method for active matrix organic light emitting diode panel
授权日：
2012-07-24
公开(公告)号：
US8228269
申请日：
2007-10-29
公开(公告)日：
2012-07-24
当前申请(专利权)人：
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION
发明人：
NAKANO, DAIJU | SAKAGUCHI, YOSHITAMI
简单同族：
CN1294421C | CN1573341A | JP2004347749A | JP3760411B2 | US20040246019A1 | US20070075727A1 | US20080117144A1 | US7106089 | US7317326 | US8228269
简单同族成员数量：
10
简单同族被引用专利总数：
233
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费