标题：
Current-actuated-display backplane tester and method
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
EP2230661A3
申请日：
2010-03-17
公开(公告)日：
2011-04-06
当前申请(专利权)人：
PALO ALTO RESEARCH CENTER INCORPORATED
发明人：
APTE, RAJ B. | LU, JENG PING | HO, JACKSON H.
简单同族：
EP2230661A2 | EP2230661A3 | JP2010225588A | JP5638819B2 | US10186179 | US20100237244A1
简单同族成员数量：
6
简单同族被引用专利总数：
0
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回