标题：
EL表示装置の検査方法
授权日：
2012-10-19
公开(公告)号：
JP5111564B2
申请日：
2010-06-08
公开(公告)日：
2013-01-09
当前申请(专利权)人：
株式会社半導体エネルギー研究所
发明人：
宮川 恵介
简单同族：
AU2003289260A1 | CN1732501A | CN1732501B | JP2010262302A | JP5110771B2 | JP5111564B2 | JPWO2004061811A1 | JPWO2004061811A5 | US20040246757A1 | US20070040568A1 | US7132842 | US7586324 | WO2004061811A1
简单同族成员数量：
13
简单同族被引用专利总数：
20
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费