标题：
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥修正方法及びエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2008066003A
申请日：
2006-09-04
公开(公告)日：
2008-03-21
当前申请(专利权)人：
三洋電機株式会社 | 三洋半導体株式会社
发明人：
小川 隆司
简单同族：
CN101174376A | JP2008066003A | KR1020080021566A | TW200845808A | US20080057818A1
简单同族成员数量：
5
简单同族被引用专利总数：
32
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
驳回 | 权利转移