标题：
エレクトロルミネッセンス表示装置の欠陥検査方法及び欠陥検査装置及びこれらを利用したエレクトロルミネッセンス表示装置の製造方法
授权日：
1900-01-01
公开(公告)号：
JP2008064806A
申请日：
2006-09-04
公开(公告)日：
2008-03-21
当前申请(专利权)人：
オンセミコンダクター·トレーディング·リミテッド
发明人：
小川 隆司
简单同族：
CN101183079A | CN101183079B | JP2008064806A | JP4836718B2 | KR101268237B1 | KR1020080021564A | TW200842343A | TWI365982B | US20080055211A1 | US8493296
简单同族成员数量：
10
简单同族被引用专利总数：
108
诉讼案件数：
0
法律状态/事件：
未缴年费 | 权利转移