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标题
授权日
公开(公告)号
申请日
公开(公告)日
当前申请(专利权)人
发明人
操作
超音波診断装置
1900-01-01
JP2018057698A
2016-10-07
2018-04-12
株式会社日立製作所
渡邉 哲夫
注释
超音波トランスデューサー素子チップおよびプローブ並びに電子機器および超音波診断装置
2017-10-13
JP6222259B2
2016-03-10
2017-11-01
セイコーエプソン株式会社
中村 友亮 | 鶴野 次郎 | 清瀬 摂内
注释
超音波トランスデューサー素子チップおよびプローブ並びに電子機器および超音波診断装置
1900-01-01
JP2016106500A
2016-03-10
2016-06-16
セイコーエプソン株式会社
中村 友亮 | 鶴野 次郎 | 清瀬 摂内
注释
超音波診断装置、及び画像処理装置
1900-01-01
JP2018079000A5
2016-11-15
2019-03-28
株式会社日立製作所
李 云 | 鈴木 麻由美 | 柴原 琢磨 | 豊村 崇 | 黎 子盛 | 朱 佩菲
注释
超音波診断装置、及び画像処理装置
1900-01-01
JP2018079000A
2016-11-15
2018-05-24
株式会社日立製作所
李 云 | 鈴木 麻由美 | 柴原 琢磨 | 豊村 崇 | 黎 子盛 | 朱 佩菲
注释
超音波探触子、超音波診断装置及び超音波送受切替方法
1900-01-01
JP2020081451A
2018-11-27
2020-06-04
株式会社日立製作所
梶山 新也 | 今川 健吾 | 林 昌宏
注释
超音波診断装置
1900-01-01
JP2004298368A5
2003-03-31
2005-12-22
セイコーインスツルメンツ株式会社
村松 博之
注释
超音波診断装置
1900-01-01
JP2004298368A
2003-03-31
2004-10-28
セイコーインスツルメンツ株式会社
村松 博之
注释
超音波観測装置及び超音波観測装置の作動方法
2012-12-14
JP5153477B2
2008-06-25
2013-02-27
富士フイルム株式会社
成瀬 睦己
注释
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