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标题
授权日
公开(公告)号
申请日
公开(公告)日
当前申请(专利权)人
发明人
操作
使用光测量技术的诊断装置
2007-09-05
CN100335001C
2003-03-17
2007-09-05
三星电子株式会社
尹吉源 | 金泓植 | 全桂珍 | 李宗渊 | 朴建国 | 金秀珍 | 左训宗
注释
使用光的诊断方法和装置
1900-01-01
CN1444906A
2003-03-17
2003-10-01
三星电子株式会社
尹吉源 | 金泓植 | 全桂珍 | 李宗渊 | 朴建国 | 金秀珍 | 左训宗
注释
Diagnostic method and apparatus using light
2006-01-24
US6990426
2003-03-14
2006-01-24
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
YOON, GIL-WON | KIM, HONG-SIG | JEON, KYE-JIN | LEE, JONG-YOUN | PARK, KUN-KOOK | KIM, SU-JIN | JWA, HOON-JONG
注释
Diagnostic method and apparatus using light
1900-01-01
US20030236647A1
2003-03-14
2003-12-25
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
YOON, GIL-WON | KIM, HONG-SIG | JEON, KYE-JIN | LEE, JONG-YOUN | PARK, KUN-KOOK | KIM, SU-JIN | JWA, HOON-JONG
注释
光を利用した診断方法及び装置
1900-01-01
JP2003265446A
2003-03-03
2003-09-24
三星電子株式会社
尹 吉源 | 金 泓植 | 全 桂珍 | 李 宗淵 | 朴 建國 | 金 秀珍 | 左 訓宗
注释
빛을 이용한 진단방법 및 장치
1900-01-01
KR1020030075225A
2002-03-16
2003-09-26
삼성전자주식회사
윤길원 | 김홍식 | 전계진 | 이종연 | 박건국 | 김수진 | 좌훈종
注释
빛을 이용한 진단방법 및 장치
2004-10-22
KR100455289B1
2002-03-16
2004-11-08
삼성전자주식회사
윤길원 | 김홍식 | 전계진 | 이종연 | 박건국 | 김수진 | 좌훈종
注释
Diagnostic method and apparatus using light
1900-01-01
EP1834577A3
2003-03-14
2007-10-03
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
YOON, GIL-WON | KIM, HONG-SIG | JEON, KYE-JIN | LEE, JONG-YOUN | PARK, KUN-KOOK,C/O SAMSUNG ADVANCED INST. OF TECH. | KIM, SU-JIN | JWA, HOON-JONG
注释
Diagnostic method and apparatus using light
1900-01-01
EP1834577A2
2003-03-14
2007-09-19
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.
YOON, GIL-WON | KIM, HONG-SIG | JEON, KYE-JIN | LEE, JONG-YOUN | PARK, KUN-KOOK,C/O SAMSUNG ADVANCED INST. OF TECH. | KIM, SU-JIN | JWA, HOON-JONG
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