标题

c-kit/SCF/pAKTの状態を測定するための方法及び定量アッセイ

授权日

2008-10-24

公开（公告）号

JP4204974B2

申请日

2002-08-21

公开（公告）日

2009-01-07

当前申请（专利权）人

ベンタナ·メディカル·システムズ·インコーポレーテッド

发明人

バッカス、 サラ エス.

简单同族

AT530635T | AU2007201809A1 | AU2007201809B2 | AU2010241288A1 | AU2010241288B2 | CA2457799A1 | CA2457799C | EP1427810A2 | EP1427810A4 | EP1427810B1 | EP1427810B9 | EP2277991A1 | ES2376422T3 | JP2005527781A | JP4204974B2 | US20030045451A1 | US20080182276A1 | US7419777 | US9625446 | WO2003016867A2 | WO2003016867A3

简单同族成员数量

21

简单同族被引用专利总数

72

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权