传感器元件、磁性粒子的检测方法及目标物质的检测方法

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传感器元件、磁性粒子的检测方法及目标物质的检测方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

CN101046464A
申请日

2007-03-30
公开（公告）日

2007-10-03
当前申请（专利权）人

佳能株式会社
发明人

池田贵司
简单同族

CN101046464A | CN101046464B | US20070231926A1 | US8945946
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

60
诉讼案件数

0
法律状态/事件

未缴年费