标题

测量电离辐射的曝射剂量的方法

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

CN101184998A

申请日

2006-02-24

公开（公告）日

2008-05-21

当前申请（专利权）人

国立大学法人广岛大学 | 智再如股份有限公司

发明人

达家雅明

简单同族

AU2006216188A1 | CN101184998A | EP1857819A1 | EP1857819A4 | RU2007135360A | US20080283763A1 | WO2006090836A1

简单同族成员数量

7

简单同族被引用专利总数

6

诉讼案件数

0

法律状态/事件

撤回