3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法

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3次元形状計測装置及び3次元形状計測方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2017217215A
申请日

2016-06-07
公开（公告）日

2017-12-14
当前申请（专利权）人

公立大学法人広島市立大学 | 国立大学法人鹿児島大学
发明人

古川亮 | 川崎洋
简单同族

JP2017217215A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查