标题

組織の特徴を測定するための蛍光、反射率および光散乱による分光学的システムおよび方法

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

JP2004518124A

申请日

2002-01-18

公开（公告）日

2004-06-17

当前申请（专利权）人

マサチユセツツ·インスチチユート·オブ·テクノロジイ

发明人

ジヨーガクーデイ,アイリーン | フエルド,マイケル·エス | ツアング,キングオ | ミユーラー,マルクス·ジー

简单同族

AU2002253891A1 | CA2431769A1 | EP1352231A2 | EP1942335A1 | JP2004518124A | JP2004518124A5 | US20020143243A1 | US20030013973A1 | US20050288593A1 | US6697652 | US6912412 | US8380268 | WO2002057757A2 | WO2002057757A3

简单同族成员数量

14

简单同族被引用专利总数

404

诉讼案件数

0

法律状态/事件

实质审查