초음파 진단 시스템에서 전기적 소자의 특성 측정 장치에서접점의 좌표 입력 방법 및 장치

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초음파 진단 시스템에서 전기적 소자의 특성 측정 장치에서접점의 좌표 입력 방법 및 장치
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

KR1020080044390A
申请日

2006-11-16
公开（公告）日

2008-05-21
当前申请（专利权）人

삼성메디슨 주식회사
发明人

KIM, CHIL SU
简单同族

KR1020080044390A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

撤回