발명의 명칭 아티팩트 제거 방법 및 이를 위한 진단 장치

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발명의 명칭 아티팩트 제거 방법 및 이를 위한 진단 장치
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

KR1020160117110A
申请日

2015-06-11
公开（公告）日

2016-10-10
当前申请（专利权）人

삼성전자주식회사
发明人

전강원 | 이현택 | 황문경
简单同族

KR1020160117110A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查