标题

Ultrasonic probe attachment, ultrasonic probe, ultrasonic inspection apparatus and ultrasonic inspection method

授权日

2019-12-04

公开（公告）号

EP3202326B1

申请日

2015-10-02

公开（公告）日

2019-12-04

当前申请（专利权）人

SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.

发明人

IIJIMA, KAZUO

简单同族

EP3202326A1 | EP3202326A4 | EP3202326B1 | JP2016073352A | JP6347713B2 | KR1020160040126A | US20170290564A1

简单同族成员数量

7

简单同族被引用专利总数

2

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权