測定装置、測定方法、および超音波診断装置

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測定装置、測定方法、および超音波診断装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2015181796A
申请日

2014-03-25
公开（公告）日

2015-10-22
当前申请（专利权）人

株式会社アドバンテスト
发明人

伊田泰一郎
简单同族

CN104939863A | JP2015181796A | US20150272540A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

驳回