超音波検査装置およびその製造方法並びに超音波プローブ

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超音波検査装置およびその製造方法並びに超音波プローブ
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2019216397A
申请日

2018-06-14
公开（公告）日

2019-12-19
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

竹崎泰一 | 長谷川浩章 | 町田俊太郎
简单同族

JP2019216397A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

公开