标题

超音波診断画像におけるひずみ速度分析方法

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

JP2004514527A

申请日

2001-11-23

公开（公告）日

2004-05-20

当前申请（专利权）人

コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ

发明人

クリトン,アリーネ エル | シェナル,セドリク | ラウンドヒル,デイヴィッド エヌ

简单同族

AT328539T | DE60120360D1 | DE60120360T2 | EP1255489A1 | EP1255489B1 | JP2004514527A | US20020072674A1 | US6537221 | WO2002045587A1

简单同族成员数量

9

简单同族被引用专利总数

204

诉讼案件数

0

法律状态/事件

驳回