異物粒子検出装置および異物粒子判別方法

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異物粒子検出装置および異物粒子判別方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2017169680A
申请日

2016-03-22
公开（公告）日

2017-09-28
当前申请（专利权）人

橋本電子工業株式会社 | 国立大学法人新潟大学
发明人

榛沢和彦 | 橋本正敏 | 窪田純 | 西祐一
简单同族

JP2017169680A | JP6684619B2
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权