超音波探触子及び超音波探触子の調整方法並びに超音波診断装置

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超音波探触子及び超音波探触子の調整方法並びに超音波診断装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JPWO2016143133A1
申请日

2015-03-12
公开（公告）日

2017-04-27
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

杉山由一 | 五十嵐豊 | 今川健吾 | 勝部勇作
简单同族

JP6243084B2 | JPWO2016143133A1 | WO2016143133A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权