超音波診断装置及び超音波による組織性状の定量解析方法

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超音波診断装置及び超音波による組織性状の定量解析方法
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2001238884A
申请日

2000-02-29
公开（公告）日

2001-09-04
当前申请（专利权）人

株式会社東芝
发明人

神山直久 | 蜂屋弘之 | 山口匡
简单同族

JP2001238884A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

44
诉讼案件数

0
法律状态/事件

撤回