超音波画像診断装置とその探触子変位算出方法

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超音波画像診断装置とその探触子変位算出方法
授权日

2016-08-05
公开（公告）号

JP5980526B2
申请日

2012-02-29
公开（公告）日

2016-08-31
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

馬場博隆
简单同族

JP2013176499A | JP5980526B2
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移