超音波探触子及びそれを用いた超音波診断装置

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超音波探触子及びそれを用いた超音波診断装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JPWO2016136365A1
申请日

2016-01-27
公开（公告）日

2017-12-07
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

三宅竜也 | 渡辺徹 | 内藤孝 | 青柳拓也 | 小野寺大剛
简单同族

JP6295370B2 | JPWO2016136365A1 | US20180008231A1 | WO2016136365A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权