超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法

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超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定方法
授权日

2018-07-13
公开（公告）号

JP6365243B2
申请日

2014-10-31
公开（公告）日

2018-08-01
当前申请（专利权）人

セイコーエプソン株式会社
发明人

新垣匠
简单同族

JP2016086958A | JP6365243B2 | US20160120513A1
简单同族成员数量

3
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权