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文本
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标题
超音波検査方法、及び超音波検査装置
授权日
1900-01-01
公开(公告)号
JP2006271765A
申请日
2005-03-30
公开(公告)日
2006-10-12
当前申请(专利权)人
国立大学法人豊橋技術科学大学 | 本多電子株式会社
发明人
穂積 直裕 | 小林 和人
简单同族
JP2006271765A | JP4654352B2
简单同族成员数量
2
简单同族被引用专利总数
16
诉讼案件数
0
法律状态/事件
未缴年费
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