超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定装置の制御方法

详情

文本

图像

标题

超音波測定装置、超音波画像装置及び超音波測定装置の制御方法
授权日

2017-07-28
公开（公告）号

JP6179290B2
申请日

2013-09-11
公开（公告）日

2017-08-16
当前申请（专利权）人

セイコーエプソン株式会社
发明人

日向崇
简单同族

JP2015054006A | JP6179290B2
简单同族成员数量

2
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权