超音波診断装置、および、減衰特性計測方法

详情

文本

图像

标题

超音波診断装置、および、減衰特性計測方法
授权日

2018-12-28
公开（公告）号

JP6457107B2
申请日

2016-09-14
公开（公告）日

2019-01-23
当前申请（专利权）人

株式会社日立製作所
发明人

吉川秀樹 | 大坂卓司
简单同族

CN108135579A | JP6457107B2 | JPWO2017068892A1 | WO2017068892A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

1
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权