光超音波断層画像測定方法及び装置

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光超音波断層画像測定方法及び装置
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

JP2005224399A
申请日

2004-02-13
公开（公告）日

2005-08-25
当前申请（专利权）人

株式会社クリニカル·サプライ | 佐藤学 | 渡部裕輝 | 田村安孝
发明人

佐藤学 | 渡部裕輝 | 田村安孝 | 古川博康 | 権貴龍
简单同族

JP2005224399A
简单同族成员数量

1
简单同族被引用专利总数

63
诉讼案件数

0
法律状态/事件

撤回