스펙트럼 측정 장치, 스펙트럼의 광원 온도 변화 보정 방법, 농도 추정 장치 및 방법

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스펙트럼 측정 장치, 스펙트럼의 광원 온도 변화 보정 방법, 농도 추정 장치 및 방법
授权日

1900-01-01
公开（公告）号

KR1020200058948A
申请日

2018-11-20
公开（公告）日

2020-05-28
当前申请（专利权）人

삼성전자주식회사
发明人

장형석 | 심재욱 | 문현석 | 엄근선 | 이준호 | 정명훈
简单同族

CN111195131A | EP3657142A1 | KR1020200058948A | US20200158629A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

0
诉讼案件数

0
法律状态/事件

实质审查