标题

Apparatus for measuring skin state by multi-wavelength light source

授权日

1900-01-01

公开（公告）号

US20190343450A1

申请日

2018-06-11

公开（公告）日

2019-11-14

当前申请（专利权）人

PARK, CHANG SIK

发明人

PARK, CHANG SIK

简单同族

CN110072442A | EP3533388A1 | EP3533388A4 | JP2020513966A | KR101856909B1 | US20190343450A1 | WO2019083116A1

简单同族成员数量

7

简单同族被引用专利总数

4

诉讼案件数

0

法律状态/事件

实质审查