Measurement patch device

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授权日

2020-04-28
公开（公告）号

US10631747
申请日

2016-01-09
公开（公告）日

2020-04-28
当前申请（专利权）人

LEE, SHUENN-YUH
发明人

LEE, SHUENN-YUH | CHIOU, JIA-REN
简单同族

TW201625177A | TWI547264B | US10631747 | US20160198972A1
简单同族成员数量

4
简单同族被引用专利总数

9
诉讼案件数

0
法律状态/事件

授权 | 权利转移