标题

Method for detecting and localizing insulation failures of implantable device leads

授权日

2016-03-01

公开（公告）号

US9272150

申请日

2013-03-15

公开（公告）日

2016-03-01

当前申请（专利权）人

LAMBDA NU TECHNOLOGY LLC

发明人

KROLL, MARK, WILLIAM | SWERDLOW, CHARLES, DENNIS

简单同族

EP2854702A1 | EP2854702A4 | US20130325079A1 | US20160250462A1 | US9272150 | US9821156 | WO2013181409A1

简单同族成员数量

7

简单同族被引用专利总数

21

诉讼案件数

0

法律状态/事件

授权 | 权利转移